Программно-аппаратные системы
Тестер мощных полупроводниковых транзисторов
TSSemi 4000/TSSemi 2500
Тестер предназначен для функционального и параметрического контроля статических и динамических параметров мощных (до 4500 В и 600 А) п/п приборов:
— Мощных диодов (FRD),
— Биполярных транзисторов (ВТ),
— Полевых транзисторов (MOSFET),
— Биполярных транзисторов с изолированным затвором (IGBT)
— Интеллектуальных силовых модулей
— Тиристоры
— Стабилитроны
— Оптопары и т.д.
Особенности системы:
Контроль на этапах входного и межоперационного контроля,
Тестирование изделий в полном соответствии с ГОСТ,
Тестирование кристаллов, либо корпусированных изделий
Преимущества:
- Значительное сокращение времени и затрат производственного процесса.
- Возможность использования программно-аппаратных готовых решений для разных типов ПП с учетом ГОСТ и других нормативных документов.
- Настройка тест-планов (задание последовательности и перечня тестов, задание режимов измерения для каждого теста, задание условий и норм разбраковки и сортировки) в графической среде, без применения специальных языков программирования.
- Возможность управления разными периферийными устройствами (камера тепло-холод и т.д.).
- Совместимость с автоматизированной платформой тестирования SINUS.
- Наличие набора для метрологической поверки, калибровки и контроля работоспособности тестера.
Измеряемые параметры:
Список основных измеряемых параметров для некоторых полупроводниковых изделий приведен ниже.
Полевые транзисторы (MOSFET):
- Ток утечки затвора Iут.з
- Остаточный ток стока Ic.o
- Начальный ток стока Ic.н
- Пробивное напряжение сток – исток Uс.и.о.
- Пороговое напряжение Uз.и.пор
- Сопротивление открытого транзистора Rс.и.
- Крутизна характеристики S
- Входная Свх., выходная Свых. и проходная Спр.емкости
- Заряд затвора Q3, заряд затвор-исток Qзи, заряд затвор-сток Qз.с
- Время задержки tзд, время нарастания tнар, время рассасывания tрас, время спада tсп
- Максимально допустимая энергия одиночного импульса, рассеиваемая транзистором в режиме лавинного пробоя
- Постоянное прямое напряжение интегрального диода
- Время обратного восстановления интегрального диода
Биполярные транзисторы с изолированным затвором (IGBT):
- Пробивное напряжение коллектор – эмиттер Uк.э.о
- Обратный ток коллектор – эмиттер Iк.э.о.
- Ток утечки затвор – эмиттер Iз.э.ут.
- Напряжение насыщения коллектор – эмиттер Uэ.к..нас
- Пороговое напряжение затвор – эмиттер Uз.э.порог
- Входная Свх., выходная Свых. и проходная Спр.емкости
- Заряд затвора Qз,заряд затвор–эмиттер Qз.э.,зарядзатвор–коллектор Qз.к.
- Время задержки tзд., время нарастания tнар., время рассасывания tрас., время спада tcп.
- Потери при включении Won, выключении Wof
Биполярные транзисторы (BT):
- Граничное напряжение Uкэгра
- Напряжение насыщения коллектор – эмиттер Uкэнас
- Напряжение насыщения база –эмиттер
- Статический коэффициент передачи тока h21э
- Обратный ток коллектор – эмиттер Uкэо
- Обратный ток коллектор – база Uкбо
- Обратный ток эмиттера Iэбо
- Время задержки включения
- Время нарастания
- Время включения
- Время задержки выключения
- Время спада
- Время выключения
Высокомощные диоды (FRD):
- Импульсное прямое напряжение на диоде Uпр.и.
- Напряжение пробоя диода Uпр.
- Заглавный обратный ток диода Iобр.
- Время обратного восстановления диода tвост
Также возможно измерить другие параметры полупроводниковых приборов, если технические характеристики тестера удовлетворяют требованиям задания и измерения электрических режимов для измерения данного параметра с учетом требуемых погрешностей.
Программная платформа автоматизированного тестирования — SINUS
Программная платформа автоматизированного тестирования «SINUS» — это специализированное программное обеспечение (ПО), имеющее интуитивно понятный и простой в использовании графический интерфейс пользователя, предназначенное для управления разными блоками тестера в ходе выполнения тестов. ПО позволяет создавать, редактировать и исполнять измерительные программы и тестовые последовательности.
Важным преимуществом ПО является возможность настройки режимов измерения для каждого теста, изменения списка и порядка их выполнения без его перезагрузки. ПО позволяет накапливать результаты измерений в файл статистики для дальнейшей обработки, а также экспортировать результаты измерений в документы форматов .CSV (совместим с MS Excel) или HTML, что создает дополнительные удобства для их хранения и дальнейшего использования.
Программа «SINUS» предназначена для управления работой тестера.
Программная платформа автоматизированного тестирования «SINUS» — это специализированное программное обеспечение (ПО), имеющее интуитивно понятный и простой в использовании графический интерфейс пользователя, предназначенное для управления разными блоками тестера в ходе выполнения тестов. ПО позволяет создавать, редактировать и исполнять измерительные программы и тестовые последовательности.
Важным преимуществом ПО является возможность настройки режимов измерения для каждого теста, изменения списка и порядка их выполнения без его перезагрузки. ПО позволяет накапливать результаты измерений в файл статистики для дальнейшей обработки, а также экспортировать результаты измерений в документы форматов .CSV (совместим с MS Excel) или HTML, что создает дополнительные удобства для их хранения и дальнейшего использования.
- Выбор тест-программ и тест-планов
- Задание инициалов исполнителя
- Выбор режима выполнения программы: Разбраковка, Измерение, Отладка
- Накопление результатов в файл статистики
- Отображение информации о выбранном тест- плане
- Контроль работоспособности тестера при включении
- Отображение информации о состоянии тестера и оценки годности изделия, а также эффективности в процентах
- Возможность выбора тестов для выполнения
- Отображение результатов измерения
- Выбор одного из четырех режимов измерения
- Задание режимов измерения без перезапуска программы
- Создание отчета
- Печать отчета с использованием одного из доступных принтеров
- Открытие отчета в браузере по умолчанию
- Статистическая обработка результатов измерений
- Построение вольт-амперных характеристик с возможностью задания необходимых настроек
- Сохранение результатов в формате .CSV и HTML
- Печать результатов
Программа «SINUS – Менеджер тест-планов» предназначена для создания, редактирования и сохранения тест-планов для выбранной тест-программы.
- Создание новых или редактирование существующих тест-планов
- Работа в офлайн режиме без наличия тестера
- Добавление, редактирование, удаление, копирование или перемещение тестов в списке
- Добавление, редактирование, удаление, копирование или перемещение параметров в списке
- Задание норм разбраковки
- Задание режимов измерения
- Активация классификации
Программа «SINUS – Обслуживание» предназначена для проведения процедур самоконтроля и калибровки тестера.
- Контроль работоспособности тестера
- Калибровка тестера
- Создание отчета о программных и аппаратных средствах
Комплектация тестера.
- Контрольно-измерительный тестер для мощных полупроводниковых приборов
- Адаптеры (опционально)
- Оснастки (опционально)
- Программа автоматизированного контроля SINUS
- Программные средства разработки (редактирования) измерительных программ (опционально)
- Руководство пользователя в электронном виде (форматы DOC, PDF);
Основные технические характеристики.
| TSSemi 4000 | TSSemi 2500 |
Источник и измеритель напряжения и тока с большим выходным током | ||
Диапазоны напряжения | +3 В, +10 В, +30 В, +60 В | +3 В, +10 В, +30 В, +60 В |
Диапазоны тока | 10 А, 100 А, 400 А | 10 А, 100 А, 300 А |
Погрешность задания и измерения тока | 0.5 % от значения значения + 0.4% от диапазона | 0.5 % от значения значения + 0.4% от диапазона |
Погрешность задания и измерения напряжения | 0.1 % от диапазона | 0.1 % от диапазона |
Источник и измеритель напряжения и тока с большим выходным током | ||
Диапазоны напряжения | -3 В, -10 В, -30 В, -60 В | -3 В, -10 В, -30 В, -60 В |
Диапазоны тока | 10 А, 100 А, 400 А | 10 А, 100 А, 300 А |
Погрешность задания и измерения тока | 0.5 % от значения значения + 0.4% от диапазона | 0.5 % от значения значения + 0.4% от диапазона |
Погрешность задания и измерения напряжения | 0.1 % от диапазона | 0.1 % от диапазона |
Высоковольтный источник и измеритель напряжения и тока | ||
Диапазоны напряжения | +100 В, +200 В, +800 В, +2000 В +4000 В, -100 В, -200 В, -800 В, -2000 В, -4000 В | +100 В, +200 В, +800 В, +2500 В, -100 В, -200 В, -800 В, -2500 В |
Диапазоны тока | 100 мA, 50 мА, 20 мА, 5 мА, 500 мкА, 50 мкА, 5 мкА, 0.5 мкА | 100 мA, 50 мА, 20 мА, 5 мА, 300 мкА, 50 мкА, 5 мкА, 0.5 мкА |
Погрешность задания и измерения тока | +/-0.5 % от значения или +/-0.5 % от диапазона | +/-0.5 % от значения или +/-0.5 % от диапазона |
Погрешность задания и измерения напряжения | +/-0.5 % от значения или +/-0.5 % от диапазона | +/-0.5 % от значения или +/-0.5 % от диапазона |
Прецизионный источник и измеритель напряжения и тока | ||
Количество независимых каналов | 2 | 2 |
Диапазоны напряжения | ±3 В, ±5 В, ±10 В, ±30 В | ±3 В, ±5 В, ±10 В, ±30 В |
Диапазоны тока | 5 мкА, 50 мкА, 500 мкА, 5 мА, 50 мА, 500 мА 5 A, 10 А (импульсный режим) | 5 мкА, 50 мкА, 300 мкА, 5 мА, 50 мА, 300 мА 5 A, 10 А (импульсный режим) |
Погрешность задания и измерения тока | 0.1 % от диапазона | 0.1 % от диапазона |
Погрешность задания и измерения напряжения | 0.05 % от диапазона | 0.05 % от диапазона |
Источник опорных напряжений | ||
Количество независимых каналов | 6 | 6 |
Диапазон напряжения | ±3 В, ±10 В, ±12 В | ±3 В, ±10 В, ±12 В |
Максимальный выходной ток | 50 мА | 50 мА |
Погрешность задания напряжения | ±0.05 % от диапазона | ±0.05 % от диапазона |
Осциллограф | ||
Четыре аналоговых входа 8 бит, 1.5 ГВыб/с, полоса 350 МГц, ±20 В макс. | ||
Генератор | ||
125 МВыб/с, 14 бит, макс. частота 20 МГц (синус), ±12 В макс. | ||
Русский
English