Платформа тестирования ЭКБ
Платформа NI STS — NI Semiconductor Test System — отличается высокой производительностью и представляет собой готовое к использованию на производстве ATE-решение для тестирования полупроводниковых устройств, включая ВЧ-устройства, устройства с сигналами различной природы и MEMS. Она подготовлена к эксплуатации в составе промышленного испытательного стенда, поддерживает различные манипуляторы, оснастки и зонды для кремниевых пластин, а стандартное расположение пружинных клемм позволяет использовать легко переносимые программы тестирования и платы нагрузки. STS включает универсальный набор программных средств для быстрых и эффективных разработки, отладки и развертывания тестовых программ
Измеритель NI STS представлен на платформе NI PXI и включает в себя PXI шасси с контроллером и установленными модульными приборами PXI.
Состав тестера варьируется под необходимые задачи
Требования к тестеру
Интерфейс для исполнительных устройств (сортировщики, зонды, манипуляторы, проходные камеры) и внешних приборов
- GPIB / Последовательный порт / TTL
- USB 3.0 / ENET
- Разъемы AUX для внешних подключений
Интерфейс оператора
- USB / ENET / Видео
- Порты питания
- Управление загрузчиком печатных плат
- Подключение антистатического браслета
- Управление запуском/остановкой
- Светодиоды статуса
- Аварийное отключение
- Соответствует конвенции SEMI S2
-Стационарная интерфейсная плата
-Недорогое решение
Пневматическая стыковка
Быстро сменяемые интерфейсные платы
Сопряжение с зондом: Soft Dock
Кабельный интерфейс
Иногда кабели подключаются напрямую к проб-карте
Сопряжение с зондом: Hard Dock
Подключение через пружинные контакты
Короткий путь прохождения сигнала
Сопряжение с зондом: Direct Dock
Программное обеспечение тестера NI STS
Набор ПО для разработки, выполнения и отладки тестов
NI TestStand + модуль TestStand Semiconductor
- Редактор последовательностей/интерфейс оператора;
- Байннинг, интеграция с манипуляторами и зондовыми станциями, поддержка STDF формата, pin-map, тестирования в режиме multisite;
- Встроенные процедуры частых измерений (прозвонка, Vcc и т.п.)
Модуль РАЗРАБОТКИ пользовательского ПО
- NI LabVIEW/LabVIEW FPGA или C#
- Включает все продвинутые математические/аналитические функции
ПО калибровки и самодиагностики NI STS
Интерфейс оператора NI STS
Настройка, анализ, отображение:
Настройка автомата
Количества сайтов
Отчеты в STDF формате
Статистика лота
Задействованные тестовые процедуры
Тестовые сценарии
Статистика по сайту
Общая статистика
Индикаторы Годен/Не годен
Другие индикаторы статуса
и т.д.
Наши услуги
Разработка тест-методов
Разработка тестовых программ и процедур
Разработка оснасток
Интеграция с информационной системой предприятия
Модернизация тестера
Проработка семейства тестеров для стандартизации решений по тестированию, по повышению эффективности производства
Тренинги, стажировка
Русский
English